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铜 Cu
  • 单晶铜Cu金属单晶衬底因其无晶界、高表面平整度、优异的电学与催化性能,在多个前沿科技领域具有重要应用。主要用作二维材料(石墨烯、六方氮化硼、)、特定合金磁性薄膜、高性能电子器件外延生长的衬底。
产品介绍

金属Cu单晶

单晶铜Cu金属单晶衬底因其无晶界、高表面平整度、优异的电学与催化性能,在多个前沿科技领域具有重要应用。主要用作于二维材料(石墨烯、六方氮化硼、)、特定合金磁性薄膜、高性能电子器件外延生长的衬底。

二维材料单晶石墨烯外延生长:Cu(111)单晶衬底是化学气相沉积(CVD)法生长晶圆级单晶石墨烯的首选衬底,因其晶格匹配度高,可实现石墨烯岛的对齐成核与无缝拼接,获得高载流子迁移率(>10,000 cm²·V¹·s¹)和均匀薄层电阻的石墨烯晶圆。

其他二维材料:如六方氮化硼(h-BN)、过渡金属硫属化物(TMDCs)等,也可在Cu(111)或其合金衬底上实现取向控制的外延生长。

催化反应平台:高指数晶面单晶Cu箔(如Cu(113))具有丰富的活性位点,在电催化(如CO₂还原、析氢反应)中表现出优于多晶铜的活性与选择性

微电子与半导体封装:单晶铜(OCC)因低电阻率、高延展性、无晶界散射,广泛用于集成电路键合引线(替代金丝,降低成本)、高速信号传输线、航天导电部件、超细铜线(Φ≤0.018 mm)制造,满足芯片微型化需求。

高性能电子器件衬底:超平坦(Ra < 0.5 nm)、无孪晶界的6英寸单晶Cu(111)晶圆,为柔性电子、光电器件提供理想外延平台,抑制转移过程中的褶皱与裂纹。

 

主要性能参数

分子式

Cu

晶系

面心立方晶系

晶胞常数

a=3.607Å  

密度

8.98 g/cm3

熔点

1083℃

生长方法

坩埚下降法(布里奇曼法)

纯度

> 4N

常规晶向

<100>;<110>;<111>.

晶向公差

±2°

常规尺寸及公差

5x510×1015×1520×1520×20Ø50.8mm或者根据客户的要求

常规厚度及公差

0.5mm1.0mm

抛光

单面或双面

表面粗糙度

Ra<15 nm="">(5×5μm

包装

100级洁净袋,1000级超净室,易氧化,真空防潮保存

 

 


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